Ученые Дальневосточного федерального университета (ДВФУ) и дальневосточного отделения РАН разработали новый метод диагностики опухолей головного мозга на атомно-силовом микроскопе (АСМ), сообщает «Газета.Ru».
Как рассказали в пресс-службе программы Минобрнауки «Приоритет 2030», он позволяет одновременно изучать строение и механические свойства опухоли за 40 минут, классифицировать ее тип и агрессивность.
«Провести биопсию опухоли мозга без хирургического вмешательства невозможно, однако ее результаты могут быть критически важны для определения дальнейшего лечения. Наш метод позволяет провести диагностику за 40 минут во время операции по взятию материала для биопсии, в то время как классический метод требует две недели. Это позволяет принять решение по ее удалению уже во время первой операции, чтобы не затягивать процесс, если опухоль прогрессирует», – прокомментировал сотрудник Лаборатории биомедицинских клеточных технологий ДВФУ Владислав Фарниев.
Анализ опухоли на АСМ требует ровной поверхности ткани. Но чаще всего, если ее берут во время биопсии, она имеет малый размер и неправильную форму. Ученые ДВФУ поместили ее в поддерживающий матрикс — форму с веществом из агара и коллагена, чтобы оставлять ткань в «расправленном» состоянии.
«Мы взяли несколько острых оригинальных зондов и с помощью фемтосекундного лазера, который позволяет крайне точно и аккуратно воздействовать на поверхность, постепенно увеличивали радиус кривизны острия. Таким образом мы установили, что оптимальный радиус — 200 нанометров. В итоге были найдены два решения — поддерживающий матрикс и оптимизированный зонд АСМ, которые позволяют сделать настоящий прорыв в исследовании живой ткани опухолей головного мозга», — добавил Фарниев.
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — прибор класса сканирующих зондовых микроскопов. Поверхность исследуемого материала «прощупывается» с помощью небольших зондов, благодаря чему получается трехмерное изображение объекта, исследуются свойства поверхности: упругость, жесткость, липкость и т.д.
ОТР - Общественное Телевидение России
marketing@ptvr.ru
+7 499 755 30 50 доб. 3165
АНО «ОТВР»
1920
1080
Новый метод диагностики опухоли мозга позволяет изучить ее характер за 40 минут
Ученые Дальневосточного федерального университета (ДВФУ) и дальневосточного отделения РАН разработали новый метод диагностики опухолей головного мозга на атомно-силовом микроскопе (АСМ), сообщает «Газета.Ru».
Как рассказали в пресс-службе программы Минобрнауки «Приоритет 2030», он позволяет одновременно изучать строение и механические свойства опухоли за 40 минут, классифицировать ее тип и агрессивность.
«Провести биопсию опухоли мозга без хирургического вмешательства невозможно, однако ее результаты могут быть критически важны для определения дальнейшего лечения. Наш метод позволяет провести диагностику за 40 минут во время операции по взятию материала для биопсии, в то время как классический метод требует две недели. Это позволяет принять решение по ее удалению уже во время первой операции, чтобы не затягивать процесс, если опухоль прогрессирует», – прокомментировал сотрудник Лаборатории биомедицинских клеточных технологий ДВФУ Владислав Фарниев.
Анализ опухоли на АСМ требует ровной поверхности ткани. Но чаще всего, если ее берут во время биопсии, она имеет малый размер и неправильную форму. Ученые ДВФУ поместили ее в поддерживающий матрикс — форму с веществом из агара и коллагена, чтобы оставлять ткань в «расправленном» состоянии.
«Мы взяли несколько острых оригинальных зондов и с помощью фемтосекундного лазера, который позволяет крайне точно и аккуратно воздействовать на поверхность, постепенно увеличивали радиус кривизны острия. Таким образом мы установили, что оптимальный радиус — 200 нанометров. В итоге были найдены два решения — поддерживающий матрикс и оптимизированный зонд АСМ, которые позволяют сделать настоящий прорыв в исследовании живой ткани опухолей головного мозга», — добавил Фарниев.
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — прибор класса сканирующих зондовых микроскопов. Поверхность исследуемого материала «прощупывается» с помощью небольших зондов, благодаря чему получается трехмерное изображение объекта, исследуются свойства поверхности: упругость, жесткость, липкость и т.д.
Ученые Дальневосточного федерального университета (ДВФУ) и дальневосточного отделения РАН разработали новый метод диагностики опухолей головного мозга на атомно-силовом микроскопе (АСМ), сообщает «Газета.Ru».
Как рассказали в пресс-службе программы Минобрнауки «Приоритет 2030», он позволяет одновременно изучать строение и механические свойства опухоли за 40 минут, классифицировать ее тип и агрессивность.
«Провести биопсию опухоли мозга без хирургического вмешательства невозможно, однако ее результаты могут быть критически важны для определения дальнейшего лечения. Наш метод позволяет провести диагностику за 40 минут во время операции по взятию материала для биопсии, в то время как классический метод требует две недели. Это позволяет принять решение по ее удалению уже во время первой операции, чтобы не затягивать процесс, если опухоль прогрессирует», – прокомментировал сотрудник Лаборатории биомедицинских клеточных технологий ДВФУ Владислав Фарниев.
Анализ опухоли на АСМ требует ровной поверхности ткани. Но чаще всего, если ее берут во время биопсии, она имеет малый размер и неправильную форму. Ученые ДВФУ поместили ее в поддерживающий матрикс — форму с веществом из агара и коллагена, чтобы оставлять ткань в «расправленном» состоянии.
«Мы взяли несколько острых оригинальных зондов и с помощью фемтосекундного лазера, который позволяет крайне точно и аккуратно воздействовать на поверхность, постепенно увеличивали радиус кривизны острия. Таким образом мы установили, что оптимальный радиус — 200 нанометров. В итоге были найдены два решения — поддерживающий матрикс и оптимизированный зонд АСМ, которые позволяют сделать настоящий прорыв в исследовании живой ткани опухолей головного мозга», — добавил Фарниев.
Атомно-силовой микроскоп (АСМ) — прибор класса сканирующих зондовых микроскопов. Поверхность исследуемого материала «прощупывается» с помощью небольших зондов, благодаря чему получается трехмерное изображение объекта, исследуются свойства поверхности: упругость, жесткость, липкость и т.д.